如何校正掃描電鏡的光束偏移？

掃描電鏡（SEM）光束偏移會導(dǎo)致成像不清晰、分辨率下降、甚至樣品漂移。

掃描電鏡對磁性材料成像有影響嗎？

掃描電鏡在對磁性材料（如鐵、鈷、鎳及其合金）成像時，可能會受到磁場干擾，導(dǎo)致成像質(zhì)量下降。

掃描電鏡（SEM）樣品是否可以重復(fù)使用，取決于以下幾個因素：

在掃描電子顯微鏡（SEM）成像過程中，樣品可能會受到污染，導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降或影響分析結(jié)果。

掃描電子顯微鏡（SEM）的成像過程主要依賴于聚焦電子束掃描樣品表面，并通過探測產(chǎn)生的電子信號來構(gòu)建圖像。

掃描電子顯微鏡（SEM）可以用于表面粗糙度分析，但其適用性取決于具體的測量需求和樣品特性。

當(dāng)掃描電鏡 (SEM) 出現(xiàn)真空泄漏時，會導(dǎo)致無法維持所需的真空度，影響成像質(zhì)量和設(shè)備正常運行。

選擇掃描電鏡 (SEM) 的掃描速度時，需要在圖像質(zhì)量、分辨率、信噪比和樣品損傷之間進行權(quán)衡。