行業(yè)動態(tài)開拓創(chuàng)新，高端品質(zhì)，真摯服務(wù)

如何判斷掃描電鏡圖像中的條紋是否為干擾？

判斷掃描電鏡（SEM）圖像中的條紋是否為干擾（artifact），可以從以下幾個(gè)方面著手分析：

掃描電鏡（SEM）中的能譜分析（EDS）中出現(xiàn)假峰（artifact peaks）或偽峰（spurious peaks），可能由以下幾類原因引起：

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，非導(dǎo)電樣品（如聚合物、陶瓷、生物材料等）容易出現(xiàn)充電效應(yīng)，導(dǎo)致圖像發(fā)亮、偏移、拉伸、失真甚至無法成像。

判斷掃描電鏡（SEM）是否需要重新調(diào)焦，可以通過以下幾個(gè)方法和信號來判斷：

在掃描電鏡（SEM）中，調(diào)節(jié)樣品臺傾斜角度的作用主要有以下幾點(diǎn)：

在掃描電鏡（SEM）成像時(shí)，如果圖像對比度太低，可以通過以下方法調(diào)整改善：

掃描電鏡（SEM）使用時(shí)如果電源不穩(wěn)定，會對成像產(chǎn)生一系列直接且顯著的負(fù)面影響，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：

掃描電鏡（SEM）圖像出現(xiàn)亮度不均，一般說明系統(tǒng)內(nèi)部或操作設(shè)置上出現(xiàn)了問題。