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掃描電鏡的分辨率有多高

掃描電鏡（SEM）的分辨率通常比光學(xué)顯微鏡高得多，能夠?qū)崿F(xiàn)納米級(jí)別的分辨率。

掃描電鏡（SEM）對(duì)焦是調(diào)整掃描電鏡系統(tǒng)以獲得清晰圖像的過(guò)程。通常，SEM系統(tǒng)具有自動(dòng)對(duì)焦功能，但也可以手動(dòng)對(duì)焦。

臺(tái)式掃描電鏡是一種便攜式、小型化的掃描電鏡，通常用于在實(shí)驗(yàn)室、教育機(jī)構(gòu)和工業(yè)領(lǐng)域進(jìn)行高分辨率的表面形貌觀察和微觀結(jié)構(gòu)分析。

臺(tái)式掃描電鏡適用于許多不同類(lèi)型的樣品，包括但不限于以下幾種：

臺(tái)式掃描電鏡通常采用多種不同的探測(cè)方式，以適應(yīng)不同的觀察和分析需求。

大多數(shù)臺(tái)式掃描電鏡的樣品臺(tái)都是可以調(diào)節(jié)的。樣品臺(tái)的調(diào)節(jié)功能可以允許用戶(hù)在掃描電鏡中放置不同尺寸和形狀的樣品，并且可以調(diào)整樣品在電子束下的位置、傾斜角度等參數(shù)，以獲得所需的觀察效果。

掃描電子顯微鏡（SEM）中電子束的加速電壓對(duì)成像有著重要影響，其主要影響體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：

在掃描電鏡（SEM）成像中，樣品表面充電是一個(gè)常見(jiàn)的問(wèn)題，可能會(huì)導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降、圖像失真甚至無(wú)法成像。