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掃描電鏡圖像上出現(xiàn)條紋或亮點(diǎn)是什么原因？

掃描電鏡（SEM）圖像上出現(xiàn)條紋或亮點(diǎn)的原因可能有多種。

掃描電子顯微鏡（SEM, Scanning Electron Microscope）成像的原理，是通過聚焦電子束掃描樣品表面并收集產(chǎn)生的各種信號(hào)來形成圖像。

掃描電子顯微鏡（SEM）需要真空環(huán)境，主要原因如下：

掃描電子顯微鏡（SEM）通常在高真空環(huán)境下工作，因此潮濕或液態(tài)樣品在常規(guī) SEM 中容易脫水、蒸發(fā)、膨脹或塌陷，影響成像效果。

在掃描電鏡（SEM）中，調(diào)整襯度（Contrast）和亮度（Brightness）對(duì)于增強(qiáng)樣品的細(xì)節(jié)非常重要，尤其是在觀察低對(duì)比度或高動(dòng)態(tài)范圍的樣品時(shí)。

在掃描電鏡（SEM）中，非導(dǎo)電樣品容易因電子束轟擊產(chǎn)生充電效應(yīng)（charging），導(dǎo)致圖像失真或信號(hào)丟失。

掃描電子顯微鏡（SEM）圖像對(duì)焦困難的主要原因包括樣品高度不均、電子束參數(shù)設(shè)置不當(dāng)、充電效應(yīng)、振動(dòng)干擾等。針對(duì)不同情況，可以采取相應(yīng)的調(diào)整方法來改善焦點(diǎn)，提高成像清晰度。

在掃描電子顯微鏡（SEM）下，樣品容易發(fā)生充電效應(yīng)（charging effect），主要原因是：