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如何識別和糾正掃描電鏡圖像中的偽影和畸變

在掃描電鏡（SEM）圖像中，偽影和畸變可能會影響到對樣品的正確觀察和分析。

臺式掃描電鏡（SEM）是一種非常有用的顯微鏡，它可以提供高分辨率的表面形貌圖像和材料的電子衍射模式。

進行臺式掃描電鏡（SEM）樣本的三維重建需要多個步驟，涉及到樣本的旋轉、成像、數據采集和后期處理。

掃描電鏡（SEM）的工作溫度和樣品溫度控制方法在不同情況下可以有所不同。

掃描電鏡（SEM）中樣品的導電性對成像參數有重要影響。

低掃描速度和高掃描速度在樣本成像中有不同的影響和應用：

在掃描電鏡中選擇合適的掃描速度是關鍵，因為它直接影響到圖像質量和分辨率。

要避免樣品在掃描電鏡（SEM）中受到輻射損傷，可以采取以下措施：