掃描電鏡（SEM）可以非常有效地檢測(cè)金屬表面的缺陷。它是材料表面分析中常用、可靠的工具之一，尤其適用于微米甚至納米級(jí)別的缺陷觀察。

SEM 能檢測(cè)的金屬表面缺陷類型包括：

裂紋與微裂紋

可觀察早期疲勞裂紋、應(yīng)力腐蝕開裂等，適用于失效分析。

孔洞與氣孔

可識(shí)別焊接或鑄造過(guò)程中產(chǎn)生的微小孔洞、疏松等問(wèn)題。

表面劃痕與劃傷

放大后能清晰看到機(jī)械損傷、劃傷深度和方向。

表面粗糙度與加工痕跡

可定性觀察磨削、拋光、腐蝕等加工痕跡。

氧化層、腐蝕坑等化學(xué)反應(yīng)結(jié)果

與能譜（EDS）聯(lián)用，還能判斷腐蝕產(chǎn)物成分。

顆粒污染或異物附著

檢測(cè)金屬表面是否有附著的顆粒、灰塵或其他雜質(zhì)。

使用建議：

低加速電壓成像（如5–10?kV）：適用于表面細(xì)節(jié)觀察，避免電子束穿透。

使用二次電子模式（SEI）：提供表面形貌的高對(duì)比圖像。

搭配能譜儀（EDS）：進(jìn)一步識(shí)別缺陷區(qū)域的元素組成。

斷口分析：配合斷口制樣，可判斷金屬斷裂的方式（如韌性斷裂、脆性斷裂等）。

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡是否可以檢測(cè)金屬表面缺陷。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢。