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掃描電鏡中的“電荷積聚”現(xiàn)象怎么解決？

掃描電鏡（SEM）中的“電荷積聚”（Charging）現(xiàn)象是指非導(dǎo)電樣品在電子束照射下無法及時釋放電荷，導(dǎo)致電子在樣品表面積累。

要保存高質(zhì)量的掃描電鏡（SEM）圖片，需要從拍攝參數(shù)、文件格式、后期處理和存儲管理等方面進行系統(tǒng)優(yōu)化。

掃描電鏡（SEM）中樣品表面放電（充電效應(yīng)）會嚴(yán)重干擾成像，表現(xiàn)為亮斑、圖像扭曲或閃爍。

在掃描電鏡（SEM）中獲取樣品成分信息，主要通過能譜儀（EDS）和背散射電子（BSE）成像實現(xiàn)。

掃描電鏡（SEM）能夠觀察多種類型的樣品，但其制備要求和成像效果因樣品性質(zhì)（導(dǎo)電性、耐電子束能力、含水量等）而異。

當(dāng)掃描電鏡（SEM）開機后電子束無法對中時，可按以下步驟系統(tǒng)排查和調(diào)整：

掃描電鏡（SEM）對樣品尺寸和厚度的限制主要取決于其腔室設(shè)計、樣品臺承載能力、探測器類型以及電子束穿透深度等因素。

樣品在進入掃描電鏡（SEM）觀察之前，為確保圖像質(zhì)量和避免損傷，通常需要進行適當(dāng)?shù)那疤幚怼?/p>