如何判斷掃描電鏡下樣品是否被污染？
判斷掃描電鏡（SEM）下樣品是否被污染，通常可以通過(guò)以下幾個(gè)方面進(jìn)行觀察和分析：
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-05-16
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非導(dǎo)電樣品在掃描電鏡（SEM）中成像時(shí)會(huì)面臨一個(gè)主要問(wèn)題：電荷積累（charging）。因?yàn)殡娮邮Z擊非導(dǎo)體后，電子無(wú)法迅速導(dǎo)出，導(dǎo)致樣品表面積累負(fù)電荷，從而產(chǎn)生圖像漂移、亮度不均甚至成像失敗。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-05-15
掃描電鏡（SEM）中，Z方向調(diào)節(jié)即樣品臺(tái)的上下移動(dòng)，直接影響樣品表面與電子槍之間的工作距離（WD, working distance），對(duì)焦的準(zhǔn)確性和成像質(zhì)量高度依賴這個(gè)參數(shù)。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-05-15
掃描電鏡（SEM）工作時(shí)對(duì)真空度要求較高，若真空度不夠（即腔室壓力偏高），會(huì)對(duì)成像質(zhì)量和設(shè)備運(yùn)行產(chǎn)生一系列不良影響。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-05-14
樣品表面污染會(huì)顯著影響掃描電鏡（SEM）成像質(zhì)量，具體表現(xiàn)和影響如下：
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-05-14
使用掃描電鏡（SEM）觀察樣品在某些情況下確實(shí)可能造成樣品損傷。這種損傷取決于樣品的材質(zhì)、電導(dǎo)率、結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性、電子束參數(shù)等。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-05-13
掃描電鏡（SEM）成像過(guò)程中出現(xiàn)的偽影（artifact）是影響圖像質(zhì)量和判讀準(zhǔn)確性的重要問(wèn)題。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-05-13
在掃描電子顯微鏡（SEM）中，掃描速度指的是電子束在樣品表面每個(gè)像素上停留的時(shí)間，通常通過(guò)設(shè)置“幀時(shí)間”或“像素駐留時(shí)間”來(lái)調(diào)節(jié)。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2025-05-12