選擇適合掃描電鏡（SEM）觀察的樣品時，需要考慮以下幾個因素：

導電性：SEM需要樣品具有一定的導電性，以避免電荷積聚和圖像失真。對于非導電樣品，可以使用導電涂層（如金屬涂覆）或導電性樣品制備技術來增加導電性。

大小和形狀：SEM對樣品的大小和形狀有一定要求。樣品應適合SEM樣品臺的尺寸限制，并且表面應盡可能平坦，以保證良好的焦點和掃描性能。對于較大的樣品，可能需要進行切割或分段處理。

要觀察的特征：確定要在SEM中觀察的樣品特征和目標。SEM適用于觀察樣品的表面形貌、微觀結構、顆粒分布、紋理等特征。選擇具有所需特征的樣品進行觀察。

樣品穩(wěn)定性：某些樣品在真空環(huán)境中可能不穩(wěn)定或易受損。確保樣品在SEM條件下具有足夠的穩(wěn)定性，不會因為真空、電子束或其他因素而發(fā)生變化或損壞。

樣品制備：根據(jù)具體需要選擇合適的樣品制備方法。樣品制備可能涉及切割、研磨、薄片制備、金屬涂覆等步驟，根據(jù)樣品類型和目的選擇合適的制備方法。

兼容性：考慮樣品與掃描電鏡系統(tǒng)的兼容性，包括樣品臺、探測器和其他配件的兼容性。確保樣品能夠適應SEM系統(tǒng)并進行適當?shù)膱D像采集和分析。

ZEM18臺式掃描電鏡

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