掃描電鏡（SEM）成像時出現(xiàn)干擾條紋，通常是由于外部干擾、電氣系統(tǒng)異常或樣品問題引起的。這些條紋可能呈現(xiàn)為周期性橫紋、斜紋、閃爍或拖影，嚴(yán)重時會嚴(yán)重影響圖像清晰度和分辨率。

下面是常見原因及對應(yīng)解釋：

一、外部電磁干擾

1. 電源干擾

由實驗室供電不穩(wěn)定、接地不良、電壓波動引起；

表現(xiàn)為周期性條紋或圖像閃動；

尤其在與 SEM 共用線路的設(shè)備（如壓縮機、熒光燈）啟動時更明顯。

2. 強電設(shè)備干擾

SEM 附近存在大功率電機、空調(diào)、電焊機、離子泵等；

這些設(shè)備產(chǎn)生的電磁場可干擾掃描系統(tǒng)；

可能出現(xiàn)周期性水平條紋或模糊斜線。

3. 無線信號/手機干擾

高靈敏度 SEM 對附近手機、Wi-Fi 或無線電波也可能敏感；

干擾條紋多為不規(guī)則閃動或圖像跳動。

二、掃描控制系統(tǒng)問題

1. 掃描信號不穩(wěn)定

若主板或控制模塊的模擬信號通道不穩(wěn)定，可能導(dǎo)致圖像出現(xiàn)周期性擾動；

常見于老舊設(shè)備或長期運行后的電子控制老化。

2. 接地不良

設(shè)備接地線松動或電勢不均，會引起電子束不穩(wěn)定；

圖像可能出現(xiàn)類似“波紋”或拉伸。

3. 電纜接觸不良

探測器線纜松動、屏蔽破損或插頭接觸不良，會引發(fā)圖像干擾；

條紋可能隨時間變化而閃爍或變寬。

三、樣品因素

1. 樣品帶電

不導(dǎo)電樣品或未噴鍍導(dǎo)電層的樣品，易積累電荷，導(dǎo)致電子束偏轉(zhuǎn)；

會出現(xiàn)不規(guī)則的亮暗條紋、波動或“拖影”；

特別是在放大倍率較高時更明顯。

2. 樣品移動或不穩(wěn)定

樣品未固定牢固，在掃描時輕微振動；

圖像條紋可能伴隨輕微“錯位”或重復(fù)重影。

四、環(huán)境振動干擾

SEM 對微小振動非常敏感；

若地面不穩(wěn)、臺架無減振、鄰近有震動源（如走動、升降梯），可能導(dǎo)致條紋或圖像漂移。