邀請函┃澤攸科技誠摯邀請您參加第五屆SEMI-e深圳國際半導體展!
日期:2023-05-11
SEMI-e深圳國際半導體展將于2023年5月16日-18日在深圳國際會展中心(寶安新館)盛大開幕!本屆展會以“芯機會 ? 智未來〞為主題,展示以芯片設(shè)計及制造、集成電路、封測、材料及設(shè)備、5G新應(yīng)用、新型顯示的半導體產(chǎn)業(yè)鏈。此次展會,澤攸科技將攜帶多項先進設(shè)備產(chǎn)品,重磅亮相16號館16B005。
澤攸科技作為是一家擁有完全自主知識產(chǎn)權(quán)的先進裝備制造公司,我們將秉承實驗室的創(chuàng)新精神和技術(shù)優(yōu)勢,展示我們在材料表征測量及半導體加工設(shè)備領(lǐng)域的成果和產(chǎn)品,并將攜帶多項先進設(shè)備產(chǎn)品參展,包括ZEM系列臺式掃描電鏡、JS系列臺階儀、探針臺、壓電驅(qū)動納米位移臺、等離子體增強化學氣相沉積系統(tǒng)等等(點擊了解詳情)。我們期待在SEMI-e上與各位業(yè)界人士交流合作,共同探討未來半導體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展方向。歡迎光臨我們的展位,了解更多澤攸科技的產(chǎn)品和服務(wù)。
以上內(nèi)容為安徽澤攸科技有限公司介紹。如果想要了解更多產(chǎn)品信息請您咨詢
TAG:
作者:澤攸科技
上一篇:邀請函┃澤攸科技將亮相第十九屆“中國光谷”國際光電子博覽會暨
下一篇:
相關(guān)內(nèi)容 Related
- 掃描電鏡拍圖時是否需要調(diào)整樣品高度?…
- 掃描電鏡掃描時出現(xiàn)干擾條紋是什么原因…
- 掃描電鏡圖像采集過程中可以實時調(diào)參嗎…
- 掃描電鏡電子束聚焦不良怎么調(diào)整?…
- 掃描電鏡同一樣品不同時間拍圖有差異正…
聯(lián)系我們 Contact US
- 服務(wù)熱線:400-966-2800
- 聯(lián)系手機:15756003283(微信同號)
- E-mail:support@zeptools.com; sales@zeptools.com
- 在線咨詢:qq咨詢